冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測(cè)試工具。

 

　　冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn)

 

　　1.產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。設(shè)備分為高溫箱,低溫箱,測(cè)試箱三部分,采獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物完全靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。

 

　　2.采用采用的計(jì)測(cè)裝置,控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘,循環(huán)周期1~999次可設(shè)定,可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行。

 

　　3.箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。

 

　　4.具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，完全有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高.先進(jìn)科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。

 

　　5.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)）除霜.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測(cè)控制，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。

 

　　6.冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美原裝進(jìn)口壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R507，R23.超強(qiáng)安全保護(hù)功能：電源過載保護(hù)、漏電保護(hù)、控制回路過載、短路保護(hù)、壓縮機(jī)保護(hù)、接地保護(hù)、超溫保護(hù)、報(bào)警聲訊提示等。

 

　　冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)主要技術(shù)參數(shù)：

 

　　高低溫區(qū)溫度范圍：【高溫區(qū)部分：+80℃至+200℃; 低溫區(qū)部分：-10℃至-55℃】

 

　　溫度測(cè)試范圍：【高 溫：+60℃至+150℃;低 溫：0℃至-40℃】

 

　　控制精度：【+(-)2℃】解析精度：【0.01℃】

 

　　高溫區(qū)升溫時(shí)間：【自常溫至150℃，約60分鐘】

 

　　低溫區(qū)降溫時(shí)間：【自常溫至 -40℃，約80分鐘】

 

　　測(cè)試區(qū)溫度恢復(fù)時(shí)間：【3-5分鐘】